HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀 型號XGT-9000 XGT-9000 樣品倉可容納各種樣品，包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓等，并根據需求提供樣品架。

臺式XGT - 5200系統搭載*的X射線導管，允許高空間分辨率的X射線熒光分析--從1.2毫米到10微米。無需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中，即可在正常大氣壓力下分析。*整合的軟件可控制樣品的移動，獲取數據分析（包括定性和定量分析，并生成成分組成圖像）。將樣品放在樣品祥中后，只需幾秒鐘，借助直觀的“point and click"選擇分析位置，即開始抓取數據。

一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開創了科學分析的新時代。它將光學圖像與元素分析*地結合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD檢測器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計數率的測量，且無需液氮。 雙真空式設計確保用戶可以在幾秒鐘內完成樣品室內部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測量含水樣品、生物樣品時也可以保證測量所有元素的高靈敏

HORIBA scientific的各種分析儀器可以助您探索生命科學的奧秘，Z終達到診斷疾病，改善人類生活，保護環境等目的。

*功能分析評估材料結構性能，符合材料設涉及力，熱，聲，光，電功能的材料，他們在生命科學，納米，傳感器，只能設備及其前前沿交叉應用中發揮著日益重要的作用，horibaXploRA Nano&Nanolog等代表性儀器，可以為這些材料的結構性能研究提供的設備和分析應用開發。